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產品展示
Minitest 2100測厚儀+F20測頭
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機，各自具有不同的數據處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機；
可使用一片或二片標準箔校準。
Minitest 2100測厚儀+F20測頭
探頭型號：
FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
| FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭， 特別適合測粉末狀的覆層厚度 |
| F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm) |
| F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭 可用于較厚的覆層 |
| F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭 尤其適合于在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
| F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等 |
| F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 |
| N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 |
| N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內壁測量 量程低端分辨率很高(0.1μm) |
| N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等 |
| CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板 |
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
