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德國費希爾 X 射線熒光測厚儀 XULM240，是一款在材料檢測領域備受矚目的精密儀器。

它配備微聚焦 X 射線管，焦點尺寸≤50μm，配合可電動切換的準直器，最小測量點直徑僅 0.1mm ，能精準測量半導體芯片金線鍍層、精密傳感器電極等微型結構。其比例計數器探測器實現高計數率，結合費希爾基本參數法，無需標準片即可完成高精度測量，如 80nm 金鍍層的重復精度可達 2.5nm ，鍍層厚度測量精度達納米級。

XULM240 還內置 500 萬像素彩色視頻顯微鏡，支持 38x - 184x 光學變焦，可實時觀察樣品表面細節并標記測量區域，定位精度達 ±0.005mm 。通過 WinFTM® 軟件，能預設測量程序（最多 100 組），進行數據統計分析并生成報告，滿足 ISO 9001 等質量管理體系要求。

在應用上，它適用于線路板行業 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB 等鍍層測量；電子行業接插件和觸點的鍍層測量；裝飾性鍍層 Cr/Ni/Cu/ABS 測量；批量生產部件（螺絲和螺母）防腐鍍層如 Zn/Fe、ZnNi/Fe 測量；珠寶和手表行業以及測定電鍍槽中的金屬含量等領域，為各行業的質量管控與生產過程控制提供有力支持。